Consejo Nacional de Investigaciones
Científicas y Técnicas
TEM
Share on Google+ Share






Microscopía Electrónica de Trasmisión (TEM)

Las imágenes de transmisión de Campo Claro (BFTEM, Bright Field Transmission Electron Microscopy) muestran la estructura interna de la muestra, y se obtienen seleccionando los electrones que la atraviesan sin desviarse o con una mínima desviación. El contraste de las imágenes obtenidas en este caso depende del espesor, la densidad y los elementos atómicos de las distintas zonas observadas, ya que obtendremos mayor o menor brillo en función de la menor o mayor dificultad que tengan los electrones para atravesar la muestra. La imagen obtenida es similar a una radiografía de la muestra, destacando el interior de la muestra en contraposición a la imagen de barrido (SEM) que revela la superficie.

TEM-DF. Para obtener imágenes de transmisión de Campo Oscuro (DFTEM, Dark Field TEM) se seleccionan los electrones que son dispersados al atravesar la muestra, bloqueando mediante la apertura de objetivo el haz directo (responsable del Campo Claro). En la imagen aparecen como zonas brillantes aquellas que dispersan los electrones en el ángulo y dirección que hayamos seleccionado, apareciendo el resto oscuro. Es muy útil por ejemplo para revelar las partículas cristalinas dentro de materiales amorfos o para mostrar defectos en estructuras cristalinas (dislocaciones, precipitados, etc). Aquí puede ver la imagen anterior tomada con la técnica de campo oscuro, que revela la existencia de partículas cristalinas dentro de las fibras.

STEM.  En el modo STEM (Scanning TEM) el haz de electrones se enfoca sobre la muestra y la rastrea igual que un microscopio de barrido, solo que aquí en vez de detectar los electrones secundarios se captan los electrones transmitidos. En función de que éstos sean dispersados por la muestra o no, captando unos y otros obtendremos imágenes de campo oscuro y campo claro. Es utilizado sobre todo junto al EDX para realizar análisis de la presencia de elementos químicos por zonas, puntuales, de línea y mapeados. También se utiliza para observar muestras sensibles al haz electrónico, por ejemplo polímeros. En la imagen puede observarse un análisis de línea sobre tres partículas captadas en modo STEM (campo oscuro).

HR-TEM. Las imágenes de Alta Resolución (HRTEM, High Resolution TEM) proporcionan detalles de la estructura a nivel atómico, revelando cómo se ordenan dichos átomos en zonas nanométricas de la muestra. En los materiales cristalinos la imagen se obtiene por contraste de fase, por las interferencias constructivas/destructivas que se producen entre los electrones dispersados por los planos cristalinos y los no dispersados. Este tipo de técnica es muy sensible a la variabilidad del foco y las aberraciones de las lentes, por lo que para interpretarlas con exactitud es aconsejable utilizar algún software de simulación. No obstante la observación directa ya proporciona mucha información sobre la estructura básica del material fotografiado.

SAED. La difracción de electrones (SAED, Selected Area Electron Diffraction) se obtiene enfocando sobre la pantalla el llamado plano focal posterior, que es aquél donde se cruzan los electrones desviados por determinados conjuntos de planos cristalográficos de la muestra. El patrón geométrico obtenido proporciona una valiosa información cristalográfica sobre la muestra observada, permitiendo obtener los parámetros fundamentales de los espaciados y el ordenamiento geométrico de sus átomos en el espacio. La difracción de haz convergente (CBED, Convergent Beam ED) es una variación de esta técnica que proporciona datos adicionales sobre la simetría y el espesor del cristal.

EELS. Es una técnica analítica denominada espectroscopía de pérdida de energía del electrón que mide el cambio en la energía cinética de los electrones después de haber interactuado con un ejemplar. Esto provee información química y estructural acerca de un sólido, con una resolución espacial hasta el nivel atómico en casos favorables. 



Crisóstomo Alvarez 722 / San Miguel de Tucumán (4000) // Tucumán - Argentina
Tel.(0381) 422-8052 / (0381) 431-2745 / (0381) 431-3740
CONICET TUCUMAN