Consejo Nacional de Investigaciones
Científicas y Técnicas
LABORATORIO
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Microscopía Electrónica de Trasmisión

La Microscopía Electrónica de Trasmisión permite investigar en el área de la nano y ultraestructura. 

Sus capacidades analíticas permiten la detección y mapeo de elementos en secciones ultrafinas.

El CIME cuenta con dos microscopios electrónicos de trasmisión: Zeiss EM 109, en funcionamiento y Zeiss Libra 120, de última generación, a instalarse próximamente.

 

Microscopía Electrónica de Barrido

La Microscopía Electrónica de Barrido constituye una de las herramientas más modernas en la investigación científica.

La habilidad para examinar en detalle un amplio rango de muestras, la facilidad de interpretación, la posibilidad de observar en un amplio rango de magnificaciones y la profundidad de foco han convertido al MEB en una herramienta indispensable.

Permite trabajar conjuntamente con un Espectrómetro dispersivo de rayos X (EDS) que analiza la composición elemental aún de pequeñas estructuras en los especímenes, lo cual hace posible realizar identificaciones conclusivas sobre el origen de algunos materiales.

En el CIME se encuentran en funcionamiento dos microscopios electrónicos de barrido: Jeol 35CF y Zeiss Supra 55VP, de última generación.
 

 


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